成果详情
CT扫描试验、X射线、CT分析

成果详情

通过X射线CT断层扫描方式,对样品进行360°扫描,合成三维结构模型,再对区域或局部进行切片分析,查找复杂结构组件内部异常点,如:中度分析、同轴度分析、内部断点定位等的系统的检查和总结。