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CT扫描试验、X射线、CT分析
标 签:
扫描,三维,X射线,CT分析,360°扫描
应用场景:
适用于查找复杂结构组件内部异常点,如:中度分...
所 在 地:
北京市
成果水平:
应用阶段:
可以量产
成果属性:
原始创新
合作方式:
技术转让 独家授权 技术入股
价 格:
面议
成果详情
通过X射线CT断层扫描方式,对样品进行360°扫描,合成三维结构模型,再对区域或局部进行切片分析,查找复杂结构组件内部异常点,如:中度分析、同轴度分析、内部断点定位等的系统的检查和总结。
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