主要检测对象为DDS专用芯片，达到了较高的测试精度和测试速率，利用自动测试系统和频谱分析仪使测试参数覆盖性较为全面，能够测试DDS专用芯片的静态参数、动态参数以及调制参数等。主要应用于DDS专用芯片的筛选检测，测试准确性、测试速率和测试覆盖性较高，测试能力达到行业内领先水平。主时钟频率200MHz以下，信号输出频率80MHz以下，内嵌DAC分辨率12bit，频率控制字长度32位的DDS集成芯片的检测。