主要检测对象为SRAM型FPGA器件,达到了较高的测试覆盖率,主要包含SPARTAN-2E、SPARTAN-3、SPARTAN-3A、Virtex、Virtex Pro、Virtex-E、Virtex-E Pro、Virtex-II、Virtex-II Pro、Cyclone、Cyclone-II、Cyclone-III、FLEX 10、FLEX 6000等系列器件。主要应用于使用各SRAM型FPGA器件的检测筛选,测试覆盖率较高,可测试的器件规模不断增加,目前已到三百万门,为同型号、同类型器件的检测提供质量保障。测试能力达到行业内领先水平。可测试规模达三百万门级; CLB测试覆盖率达到100%;IOB测试覆盖率达到100%;IR测试覆盖率达到80%;可检测IO端口数728;直流参数测试。