片上集成红外偏振探测技术指标：
阵列规模：≥320×256
谱段范围：近红外、短波、中波
偏振分量：0°、45°、90°、135°
正交消光比：≥10:1

偏振信息：偏振度、偏振角

一种集成红外偏振探测技术，将传统的采用复杂的光路来对入射光起偏的功能集成在红外焦平面探测器上，利用特殊设计的起偏微结构可实现对多个偏振角度的探测，通过专门的拓扑结构进行信号处理，不会损失空间分辨率。这种集成红外偏振探测技术避免了传统偏振探测的复杂的光路系统和机械结构所带来的超大体积和重量问题，同时可靠性也会大大提升。